高光谱成像系统高光谱成像系统的说明高光谱成像系统的工作原理高光谱成像系统的特点高光谱成像系统的应用高光谱成像系统的光谱范围高光谱成像系统的简图

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ICP发射光谱仪具有ppb级的高灵敏检测能力，５～６数量级的动态宽分析浓度范围以及多元素同时分析等的特长，应用领域广阔。随着应用范围的扩大，缩短分析时间和提高对复杂组份为基体的样品检出能力的要求越来越高。为此，推出采用半导体检测器的全谱型ICP光谱仪。而对于光谱干扰极为严重的样品分析，仍采用顺序式ICP光谱仪更为适合。

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偏振薄膜是液晶显示装置(LCD)的主要的材料,而且正随着LCD的用途扩大、大型化使市场需求有大幅度的增长。另外,随着LCD质量的提高,偏振薄膜的品质检查的要求也提高了，要求精确检测光学特性以及色彩评价。高通量设计的V-7000系列,拥有考虑到样品处理的自动偏光片测量装置

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BLUE-Wave系列光谱仪 2048 像素 CCD/PDA 探测器 狭缝类型决定分辨率

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SAFEDA全波长分光光度计(型号：FA-6QB), 是以朗伯比耳定律为理论基础，基于物质对光的选择吸收而建立起来的分析方法，同时参考国家标准所涉及分光光度法的28类食品检测方法。

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上海仪电WGZ-1000浊度计 浊度计是用于测量悬浮于水(或透明液体)中不溶性颗粒物质所产生的光的散射和衰减程度，并能定量表征这些悬浮颗粒物质含量的仪器。广泛用于水厂、食品、化工、电厂、冶金、环保、饮料、制酒、制药行业等部门，是常用的实验室仪器。   

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AD-U-2K-12是一款通用、低成本、双通道液晶驱动控制器，旨在应用于不各种不同的液晶设备上，如：可变延迟器、偏振开关、衰减器、可调彩色滤光片。

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尺寸：可订制显示波段：750-1550nm 小可测功率：0.2mW显示波段：800-1550nm工作面积：20×30mm1000nm处灵敏度：6mW/cm21300nm处灵敏度：60mW/cm21500nm处灵敏度： >500mW/cm2脉冲损坏阈值（J/cm2）：0.50连续损坏阈值(kW/cm2)：1.0

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ZHGY-12A半导体激光器：适用于几何光学、干涉、衍射、偏振等光学实验。波长：650nm 功率：10mW(包括电源)

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